下列文件中的條款通過本標準的引用而成為本標準的條款。凡是注日期的引用文件,其隨后所有的修改單(不包括勘誤的內容)或修訂版均不適用于本標準,然而,鼓勵根據本標準達成協議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本適用于本標準。
GB/T191-2000 包裝儲運圖示標志(GB/T191-2008,ISO780:1997,MOD)
GB/T2423.1 電工電子產品環境試驗 第2 部分:試驗方法 試驗A:低溫(GB/T2423.1-2008,IEC60068-2-1:2007,IDT)
GB/T2423.2 電工電子產品環境試驗 第2 部分:試驗方法 試驗B:高溫(GB/T2423.2-2008,IEC60068-2-2:2007,IDT)
GB/T2423.3 電工電子產品環境試驗 第2 部分:試驗方法 試驗Cab:恒定濕熱試驗(GB/T2423.3-2006,IEC60068-2-78:2001,IDT)
GB/T2423.10 電工電子產品環境試驗 第2 部分:試驗方法 試驗Fc:振動(正弦)(GB/T2423.10-2008,IEC60068-2-6:1995,IDT)
GB/T2423.17 電工電子產品環境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Ka:鹽霧(GB/T2423.17-2008,IEC60068-2-11:1981,IDT)
GB/T2423.22-2002 電工電子產品環境試驗 第2 部分:試驗方法 試驗N:溫度變化(IEC60068-2-14:1984,IDT)
GB4208 外殼防護等級(IP代碼)(GB4208-2008,IEC60529:2001,IDT)
GB/T5080.7 設備可靠性試驗 恒定失效率假設下的失效率與平均無故障時間的驗證試驗方案(GB/T5080.7-1986,idtIEC60605-7:1978)
GB/T17626.2 電磁兼容 試驗和測量技術 靜電放電抗擾度試驗(GB/T17626.2-2006,IEC61000-4-2:2001,IDT)
GB/T17626.3 電磁兼容 試驗和測量技術 射頻電磁場輻射抗擾度試驗(GB/T17626.3-2006,IEC61000-4-3:2002,IDT)
GB/T17626.4 電磁兼容 試驗和測量技術 電快速瞬變脈沖群抗擾度試驗(GB/T17626.4-2008,IEC61000-4-4:2004,IDT) |
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