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中華人民共和國國家標準批準發布公告2018年第4號

來源：國標委更新時間：2018-03-15

關于批準發布《半導體集成電路電壓調整器測試方法》等20項國家標準的公告

國家質量監督檢驗檢疫總局、國家標準化管理委員會批準《半導體集成電路電壓調整器測試方法》等20項國家標準，現予以公布（見附件）。

國家質檢總局國家標準委
2018年3月15日

序號	標準編號	標準名稱	代替標準號	實施日期
1	GB/T 4377-2018	半導體集成電路電壓調整器測試方法	GB/T 4377-1996	2018-08-01
2	GB/T 14028-2018	半導體集成電路模擬開關測試方法	GB/T 14028-1992	2018-08-01
3	GB/T 35001-2018	微波電路噪聲源測試方法		2018-08-01
4	GB/T 35002-2018	微波電路頻率源測試方法		2018-08-01
5	GB/T 35003-2018	非易失性存儲器耐久和數據保持試驗方法		2018-08-01
6	GB/T 35004-2018	數字集成電路輸入/輸出電氣接口模型規范		2018-08-01
7	GB/T 35005-2018	集成電路倒裝焊試驗方法		2018-08-01
8	GB/T 35006-2018	半導體集成電路電平轉換器測試方法		2018-08-01
9	GB/T 35007-2018	半導體集成電路低電壓差分信號電路測試方法		2018-08-01
10	GB/T 35008-2018	串行NOR型快閃存儲器接口規范		2018-08-01
11	GB/T 35009-2018	串行NAND型快閃存儲器接口規范		2018-08-01
12	GB/T 35010.1-2018	半導體芯片產品第1部分：采購和使用要求		2018-08-01
13	GB/T 35010.2-2018	半導體芯片產品第2部分：數據交換格式		2018-08-01
14	GB/T 35010.3-2018	半導體芯片產品第3部分：操作、包裝和貯存指南		2018-08-01
15	GB/T 35010.4-2018	半導體芯片產品第4部分：芯片使用者和供應商要求		2018-08-01
16	GB/T 35010.5-2018	半導體芯片產品第5部分：電學仿真要求		2018-08-01
17	GB/T 35010.6-2018	半導體芯片產品第6部分：熱仿真要求		2018-08-01
18	GB/T 35010.7-2018	半導體芯片產品第7部分：數據交換的XML格式		2018-08-01
19	GB/T 35010.8-2018	半導體芯片產品第8部分：數據交換的EXPRESS格式		2018-08-01
20	GB/T 35011-2018	微波電路壓控振蕩器測試方法		2018-08-01

出處：http://std.sacinfo.org.cn/gnoc/queryInfo?id=7D4595B196DD07AAA1232D26804119FD

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