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| 英文名稱： |
Microbeam analysis—Focused ion beam—Preparation of TEM specimens |
| 標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)： |
即將實(shí)施 |
 中標(biāo)分類： |
化工>>化工綜合>>G04基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法 |
| ICS分類： |
化工技術(shù)>>分析化學(xué)>>71.040.40化學(xué)分析 |
| 發(fā)布部門： |
國(guó)家市場(chǎng)監(jiān)督管理總局 國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì) |
| 發(fā)布日期： |
2025-03-28 |
| 實(shí)施日期： |
2025-10-01
即將實(shí)施 距離實(shí)施日期還有38天 |
| 提出單位： |
全國(guó)微束分析標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)(SAC/TC 38) |
| 歸口單位： |
全國(guó)微束分析標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)(SAC/TC 38) |
| 起草單位： |
北京科技大學(xué)、天津大學(xué)、南京大學(xué)、首鋼集團(tuán)有限公司、上海交通大學(xué)、哈爾濱工業(yè)大學(xué) |
| 起草人： |
喬祎、徐宗偉、鄧昱、孟楊、王英、王榮明、鄒永純、尤力、朱玉辰 |
| 頁(yè)數(shù)： |
20頁(yè) |
| 出版社： |
中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)出版社 |